专业技术
Expertise
先进化合物工艺
先进检测技术
光电融合集成技术
新型功率器件技术
更多技术
实验室服务
What We Offer
九峰山研究
J-Research
检测分析服务
J-Analysis
工艺开发
J-Process
解决方案
J-Solution
创新孵化
J-Startup
物料验证
J-Qualification
更多服务
产业带动
Industry
未来光电子产业
未来显示产业
生命科学与健康
无线互联与感知
智能系统
更多应用
关于我们
About Us
加入我们
Join Us
工作机会
联合培养
JFS新闻
J-News
阅览室
Reading Room
JFS公开课
J-School
+
专业技术
先进化合物工艺
先进检测技术
光电融合集成技术
新型功率器件技术
更多技术
实验室服务
九峰山研究
检测分析服务
工艺开发
解决方案
创新孵化
物料验证
更多服务
产业带动
未来光电子产业
未来显示产业
生命科学与健康
无线互联与感知
智能系统
更多应用
关于我们
加入我们
工作机会
联合培养
JFS新闻
阅览室
JFS公开课
×
首页
>
专业技术
>
先进检测技术
>
材料分析技术
材料分析技术
材料分析技术是表征材料物理化学特性的现代先进分析技术总称,它几乎可以表征影响材料表现的所有物理化学特征,如结构、缺陷、化学成分等。因此,材料分析技术常用来验证半导体材料/器件的设计、工艺等阶段的结果,并帮助其反馈和调整,是半导体生产研究中最为重要且被广泛应用的检测分析手段。
九峰山实验室的材料分析技术包含六大类。它包括了表面形貌分析、X射线分析、电子束分析、二次离子质谱分析、光谱分析、材料参数量测(电学及力学等功能测试)等,并可兼容测量4/6/8英寸晶圆和小尺寸样品,相应测试设备均保持全球领先水平。
X射线光电子能谱
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
高分辨X射线衍射
High Resolution X-ray Diffraction(HR-XRD)
纳米压痕仪
NanoIndenter(NI)
飞行时间二次离子质谱
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry(TOF-SIMS)
动态二次离子质谱
Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry(D-SIMS)
俄歇电子能谱
Auger electron spectroscopy(AES)
傅里叶变换红外光谱
Fourier Transform infrared spectroscopy(FTIR)
时间分辨光致发光光谱
Time-resolved photoluminescence(TRPL)
晶圆级光致发光显微光谱
Photoluminescence(PL)
共聚焦显微拉曼/PL光谱
Confocal-mircoscopy Raman/PL spectrum
联系我们
专业技术
先进化合物工艺
先进检测技术
光电融合集成技术
新型功率器件技术
更多技术
实验室服务
九峰山研究
检测分析服务
工艺开发
解决方案
创新孵化
更多服务
产业带动
化合物半导体
下一代电力电子
光电子产业
生命与科学健康
无线互联与感知
智能系统
更多应用
加入我们
阅览室
JFS公开课
JFS新闻
科研团队
分享与关注
关注九峰山实验室微信公众号,获取新鲜资讯
联系我们
法律声明
隐私政策
Copyright © 九峰山实验室 备案号:
鄂ICP备2021010535号-1
地址:武汉市东湖高新技术开发区九龙湖街9号 邮政编码:430078